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鐵電隨機(jī)存儲器測試儀FeRAM (Ferroelectric Random Access Memory) Cell Tester內(nèi)存窗口信息是基于對器件*集成后...
機(jī)電薄膜e31測試儀 aix4PB(Electromechanical thin film e31 analyzer )薄膜材料的機(jī)電性能是MEMS器件設(shè)計的關(guān)...
熱電性能測試儀 COMTESSE(Thermoelectric Measurement)本系統(tǒng)主要用于熱電性能測試。包括：熱導(dǎo)率thermal conducti...
熱激發(fā)極化電流測試儀 TSDC(Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)本系統(tǒng)除了可以測...
多鐵材料磁電磁阻測試儀 aixPES-MR，主要用于研究磁阻和鐵性材料。本系統(tǒng)提供連續(xù)電流激勵和測試，樣品上的電壓降通過高精度四點測試。
電卡效應(yīng)測試儀 ECM(ElectroCaloric Measurement)除了可以測試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外，還可以用于測試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡...
本系統(tǒng)主要用于高低溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。壓電測試溫度可以達(dá)到-100℃到+600℃。
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